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封闭式控温电炉

简要描述:封闭式控温电炉
本公司的TC-OY-BL1封闭控温加热器是利用电能转换为热能的原理制造的,发热体被全封闭在缘耐高温材料中,外壳表面采用冷轧钢板,经耐温材料涂覆,干净、防腐蚀、防油烟,便于清洗、清洁卫生

  • 产品型号:TC-OY-BL1
  • 厂商性质:其他
  • 更新时间:2025-06-16
  • 访  问  量:458

详细介绍

产地国产加工定制

封闭式控温电炉
 利用电能转换为热能的原理制造的,发热体被全封闭在缘耐高温材料中,外壳表面采用冷轧钢板,经耐温材料涂覆,干净、防腐蚀、防油烟,便于清洗、清洁卫生。同时炉盘表面喷涂无毒不粘涂料,也可直接烘烤食物。它具有加热快、使用方便、热效率高、特别安全耐用等优点。 
  
技术参数: 
型号         额定电压  额定功率  额定频率 档位 盘面直径  
TC-OY-BL1220VAC1000W   50Hz无级 150mm  
TC-OY-BL2220VAC1500W   50Hz无级 180mm  
双联 220VAC2×1000W       50Hz无级 2×150mm

 控温加热器是利用电能转换为热能的原理制造的,发热体被全封闭在缘耐高温材料中,外壳表面采用冷轧钢板,经耐温材料涂覆,干净、防腐蚀、防油烟,便于清洗、清洁卫生。同时炉盘表面喷涂无毒不粘涂料,也可直接烘烤食物。它具有加热快、使用方便、热效率高、特别安全耐用等优点。 

封闭式控温电炉
概 述: 
本公司的TC-OY-BL1封闭控温加热器是利用电能转换为热能的原理制造的,发热体被全封闭在缘耐高温材料中,外壳表面采用冷轧钢板,经耐温材料涂覆,干净、防腐蚀、防油烟,便于清洗、清洁卫生。同时炉盘表面喷涂无毒不粘涂料,也可直接烘烤食物。它具有加热快、使用方便、热效率高、特别安全耐用等优点。 

 

 

 

产品名称:便携式三聚氰胺速测仪
产品型号:TD-SJJC 

便携式三聚氰胺速测仪/三聚氰胺分析仪/乳品三聚氰胺检测仪 型号:TD-SJJC 
便携式三聚氰胺速测仪采用酶联免疫技术和胶体金免疫层析技术。便携式三聚氰胺速测仪可以检测奶粉、纯牛奶、酸奶、酸乳、果乳等奶制品中三聚氰胺的含量也可以检测饲料、鸡蛋以及其它食品中的三聚氰胺和尿素含量。从原料采购到成品检验均可使用 
Ø     检测技术:采用酶联免疫技术和胶体金免疫层析技术。 
Ø   检测范围:,检测项目:可定性检测三聚氰胺、并可根据用户需要扩充新的检测项目。 
用户接口:7寸彩屏全触摸输入;内置USB,SD卡接口,以太网卡接口。内置热敏打印机,可以随机打印结果报告  
检测过程无需样品前处理或试剂配置,无需准备标准品,操作简单、快速,  
仪器体积小,携带方便,内置大容量电池。也可以用外接低电压适配器供电  
具有强大数据处理分析能力,可通过网络传输数据,进行实时远程监控。  
提供汽车电源接口,于室内、野外及汽车移动实验室  
自动化程度高,自动显示检测结果,可记录、保存、处理数据  
可存储8000条样原始数据  

  
便携式三聚氰胺速测仪主要技术参数:                          
?     1)示值范围:0-255。 
?     2)测量重复性:+-1。 
?     3)检测响应时间:<5S。 
?  4)人机接口:7寸TFT触摸屏,全中文显示。内置打印机,输出带USB接口,EtherNet网卡接口,SD卡插座。 
    5)电源:电源适配器DC输入7.5v/3A, 内置充电电池

 

 

 

 

产品名称:数字式四探针测试仪
产品型号: ST2253

数字式四探针测试仪 型号: ST2253 
概述   
      ST2253型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。 

    仪器成套组成:由主机、选配的四探针探头、测试台以及PC软件等部分组成。 
    主机主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成,USB通讯接口。仪器主机所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘和数码开关输入;具有零位、满度自校功能;测试功能可自动/手动方式;仪器操作可由配套软件在PC机上操作完成,也可脱PC机由四探针仪器面板上独立操作完成。测试结果数据由主机数码管直接显示,也可连机由软件界面同步显示、分析、保存和打印! 
     
    探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配探头,也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。 
     
    测试台选配:一般四探针法测试电阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选SZT-K型测试台,也可选配SZT-D型测试台以测试半导体粉末电阻率,选配SZT-G型测试台测试橡塑材料电阻率。 
      详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》点击进入 
    仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。 
    仪器于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。 
三、基本技术参数 
     
3.1  测量范围 
     电  阻:1×10-4~2×105 Ω   ,分辨率:1×10-5~1×102 Ω 
    电阻率:1×10-4~2×105 Ω-cm,分辨率:1×10-5~1×102 Ω-cm 
    方  阻:5×10-4~2×105 Ω/□,分辨率:5×10-5~1×102 Ω/□ 
3.2  材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定) 
     直    径:SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15~130mm,手持方式不限 
    SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm,手持方式不限. 
    长(高)度:测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限. 
    测量方位: 轴向、径向均可 
3.3.  4-1/2 位数字电压表: 
    (1)量程: 20.00mV~2000mV 
   (2)误差:±0.1%读数±2 字 
3.4 数控恒流源 
    (1)量程:0.1μA,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA,1A 
   (2)误差:±0.1%读数±2 字 
3.5 四探针探头(选配其一或加配全部) 
    (1)碳化钨探针:Φ0.5mm,直线探针间距1.0mm,探针压力: 0~2kg 可调 
   (2)薄膜方阻探针:Φ0.7mm,直线或方形探针间距2.0mm,探针压力: 0~0.6kg 可调 
3.6. 电源 
    输入: AC 220V±10% ,50Hz  功        耗:<20W 
3.7.外形尺寸: 
    主   机  220mm(长)×245 mm(宽)×100mm(高) 
   净   重:≤2.5kg

 

 

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