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| 产地 | 国产 | 加工定制 | 是 |
|---|
定焦型红外测温仪 红外线测温仪 型号：TC-WHD4005
光学分辨力（距离系数）：125：1
（在1~5m范围内，视场尺寸从φ30~40mm）
寻象方式：激光定位
测温范围：0～300℃
测量精度：量程上限的±1%±1位
工作波段：8～14μm
检测元件：薄膜热电堆
响应时间：～1s
测量显示：Z大值、即时值、环温值
全屏中文显示：测量距离、辐射率、报警温度、电池欠压、*（激光应用）、重现
背光照明：人工控制
讯响器报警：电池欠压、量程、设定值
工作环温：0～45℃
相对湿度：10～90%，环温达30℃无结露
电 源：DC9V碱性电池
储存温度：-20～50℃
定焦型红外测温仪 红外线测温仪
光学分辨力（距离系数）：125：1
（在1~5m范围内，视场尺寸从φ30~40mm）
寻象方式：激光定位
技术参数：
测温范围：0～300℃
测量精度：量程上限的±1%±1位
工作波段：8～14μm
检测元件：薄膜热电堆
响应时间：～1s
测量显示：Z大值、即时值、环温值
全屏中文显示：测量距离、辐射率、报警温度、电池欠压、*（激光应用）、重现
背光照明：人工控制
讯响器报警：电池欠压、量程、设定值
工作环温：0～45℃
相对湿度：10～90%，环温达30℃无结露
电 源：DC9V碱性电池
储存温度：-20～50℃
 | 产品名称：四探针测试仪/四探针电阻率检测仪/方阻计/四探针检测仪 产品型号：SZT2A |
四探针测试仪/四探针电阻率检测仪/方阻计/四探针检测仪型号：SZT2A
主要说明：
1．主机采用 的先进电路设计，所测数值更精、更快、更准（一代为传统式电路，缺点：体积大，速度慢，元器件繁多导致影响机器寿命）。
2．屏幕采用液晶显示（一代为只有数码管显示），手自一体（自动是标配，手动手持是自选）。
3．匹配电脑接口及软件(有232接口和USB两种接口)，让操作简便明了化（可直接连接电脑，电脑进行自动运算根据输入厚度，自动比照并修正系数，使被测结果更精确，数据可储藏或删除，利于使用方保存记录）,此功能为选配件。
4．二代的测试架采用自动传感装置，接近被测物体时实行自动减速，避免了被测物体的损耗和探头的磨损（于国内市场上任何一款同类产品的测试架，老一代为手动）。
5. 本仪器测试电阻、电阻率、方块电阻时，标准系数为随选择键自动运算，无需另外手工调整，省去了原仪器的诸多麻烦。
6.本仪器的Z大分辨率为0.1mΩ。
7．测试探头为钨针，市场上多为高速钢针。
8．每次测量均有内置计算机自动进行温度补偿及电压电流矫正。
9．整机测量标准不确定度：≤ 2%（国内其它误差为≤ 5% ）
10. 技术参数：
1)． 测量范围：
电阻率：10的-4次方~10的5 次方Ω-cm
方块电阻：10的-4次方 ~10的5 次方Ω/□
电阻：10的-4次方 ~10的5 次方Ω
2)． 可测半导体材料尺寸
直径：5mm-130mm
长度：≤400mm
如果使用手持探针，尺寸范围可以延伸
3)． 测量方法：
轴向、断面均可
4)． 显示方式：41/2,数显,性、过载自动显示，小数点、单位自动显示。
5)． 恒流源：
（1） 电流输出：直流电流0~100 mA
（2） 量程：10、100μA、1、10、100mA
（3） 误差：±0.5%读数±1个字
6).四探针测试探头
(1) 探针间距:1mm
(2) 材料:碳化钨.探针机械游移率:±1.0%
7).电源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:＜35W
 | 产品名称：橡胶硬度计 产品型号：XHS-D |
橡胶硬度计型号 ：XHS-D
测量硬质橡胶、塑料材料硬度的试验仪器。
执行标准：GB/T2411、JJG1039。
硬度计表头可安装在定负荷测定架上，在实验室内对硬质橡胶、塑料材料标准试片测定其标准硬度，也可手持硬度计表头在生产车间及承装在设备上的橡塑材料进行测定其表面硬度。
主要技术参数:
压针行程：0-2.5mm
硬度显示范围：0-100度
试样厚度：≥4mm（可两层叠加）
三种硬度计的适应范围：
1、XHS-A：常规硬度计，试验准确区域值为20-85度
2、XHS-D：高值硬度计，试验准确区域值为20-80度（当A型硬度在85度以上,应采用D型测量）
3、XHS-W：低值硬度计，试验准确区域值为20-85度（当A型硬度在35度以下,应采用W型测量）
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