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| 产地 | 国产 | 加工定制 | 否 |
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双电测四探针测试仪 四探针测试仪型号：TC-RTS-5
TC-RT 用了四探针双电测组合（亦称双位组合）测量新技术,将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上,利用电流探针、电压探针的变换，在计算机控制下进行两次电测量，能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。因而每次测量不必知道探针间距、样品尺寸及探针在样品表面上的位置。由于每次测量都是对几何因素的影响进行动态的自动修正，因此显著降低了几何因素影响，从而提高了测量结果的准确度。所有这些，用目前大量使用的常规四探针测量方法所的仪器是无法实现的。
系统是一个运行在计算机上拥有友好测试界面的用户程序，通过此测试程序辅助使用户简便地进行各项测试及获得测试数据并对测试数据进行统计分析。
测试程序控制四探针测试仪进行测量并采集测试数据，把采集到的数据在计算机中加以分析，然后把测试数据以表格，图形直观地记录、显示出来。用户可对采集到的数据在电脑中保存或者打印以备日后参考和查看，还可以把采集到的数据输出到Excel中，让用户对数据进行各种数据分析
技术参数：
测量范围 电阻率：0.001～200Ω.cm（可扩展）；
方块电阻：0.01～2000Ω/□（可扩展）；
电导率：0.005～1000 s/cm；
电阻：0.001～200Ω.cm；
可测晶片厚度 ≤3mm
双电测四探针测试仪 四探针测试仪
可测晶片直径 140mmX150mm（配S-2A型测试台）；
200mmX200mm（配S-2B型测试台）；
400mmX500mm（配S-2C型测试台）；
恒流源 电流量程分为0.1mA、1mA、10mA、100mA四档，各档电流连续可调
数字电压表 量程及表示形式：000.00～199.99mV；
分辨力：10μV；
输入阻抗：>1000MΩ；
精度：±0.1% ；
显示：四位半红色发光管数字显示；性、量程自动显示；
四探针探头基本指标 间距：1±0.01mm；
针间缘电阻：≥1000MΩ；
机械游移率：≤0.3%；
探针：碳化钨或高速钢Ф0.5mm；
探针压力：5～16 牛顿（总力）；
四探针探头应用参数 （见探头附带的合格证）
模拟电阻测量相对误差
（ 按JJG508-87进行） 0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字
整机测量Z大相对误差（用硅标样片：0.01-180Ω.cm测试）≤±4%
整机测量标准不确定度 ≤4%
计算机通讯接口 并口
标准使用环境 温度：23±2℃；
相对湿度：≤65%；
无高频干扰；
无强光直射
 | 产品名称：数字式四探针测试仪 产品型号： SZT-I 停产 |
数字式四探针测试仪型号：SZT-I
SZT-I型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理 的多用途综合测量装置。它可以测量片状、快状半导体材料径向和轴向电阻率，测量片状半导体材料的电阻率和扩散层的薄层电阻（方块电阻），换上特制的四探针测试夹，还可以对金属导体的低中值电阻进行测量。此外，探针经过特殊加工后，还可以测量薄膜材料电阻率。广泛于半导体材料、器件厂、高等院校化学物理系、科研单位，对半导体材料的电阻性能测试。
本仪器测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针，定位准确，游移率小，使用寿命长。
技术参数：
1． 测量范围：
电阻率：10的-4次方~10的3 次方Ω-cm
方块电阻：10的-3次方 ~10的4 次方Ω/□
电阻：10的-6次方 ~10的5 次方Ω
导电类型鉴别：电阻率范围 10的-4 次方~10 的3次方Ω—cm
2． 可测半导体材料尺寸
直径：φ15~100 mm
长度：≤400mm
3． 测量方法：
轴向、断面均可
4． 显示方式：31/2,数显,性、过载自动显示，小数点、单位自动显示。
5． 恒流源：
（1） 电流输出：直流电流0~100 mA连续可调。
（2） 量程：10、100μA、1、10、100mA
（3） 误差：±0.5%读数±2个字
6.四探针测试探头
(1) 探针间距:1mm
(2) 材料:碳化钨.探针机械游移率:±1.0%
7.电源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:＜35W
 | 产品名称：橡胶硬度计 产品型号：XHS-A |
橡胶硬度计 型号：XHS-A
测量橡胶、塑胶材料硬度的试验仪器。
执行标准：GB/T531、JJG304、适合GB/T6031试验方法的有关规定。
硬度计表头可安装在定负荷测定架上，在实验室内对橡胶、塑料材料标准试片测定其标准硬度，也可手持硬度计表头在生产车间及承装在设备上的橡塑材料进行测定其表面硬度。
主要技术参数:
压针行程：0-2.5mm
硬度显示范围：0-100度
试样厚度：≥4mm（可两层叠加）
三种硬度计的适应范围：
1、XHS-A：常规硬度计，试验准确区域值为20-85度
2、XHS-D：高值硬度计，试验准确区域值为20-80度（当A型硬度在85度以上,应采用D型测量）
3、XHS-W：低值硬度计，试验准确区域值为20-85度（当A型硬度在35度以下,应采用W型测量）
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