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光耦参数测试仪

简要描述:光耦参数测试仪
,是一种专门用于各种电子元件参数测试的新型多功能测试装置。该机采用大规模MCU设计,中文界面操作,大容量内存,可存2000种元件参数设置数据.仪器外型美观、性能稳定、测量准确、操作简单、使用安全方便,电子产品或电子元件供应商来料检测。

  • 产品型号:JFY3010A
  • 厂商性质:其他
  • 更新时间:2023-10-15
  • 访  问  量:1905

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详细介绍

品牌其他品牌产地国产
加工定制

光耦参数测试仪型号:JFY3010A

 

光耦参数测试仪

 

 

详细介绍
※概述:
是一种**门用于各种电子元件参数测试的新型多功能测试装置。该机采用大规模MCU设,中文界面操作,大容量内存,可存2000种元件参数设置数据.仪器外型美观、性能稳定、测量准确、操作简单、使用安全方便,适用电子产品生产厂家或电子元件供应商来料检测。
※             测量元件类型:三管类型4脚 6脚光耦
※             测量参数:

是一种**门用于各种电子元件参数测试的新型多功能测试装置。该机采用大规模MCU设,中文界面操作,大容量内存,可存2000种元件参数设置数据.仪器外型美观、性能稳定、测量准确、操作简单、使用安全方便,适用电子产品生产厂家或电子元件供应商来料检测。
※             测量元件类型:三管类型4脚 6脚光耦
※             测量参数:

参数指标表:

参数

测试参数

测试条件设置

输入正向压降(VF)

0-2.000V

0-400MA

耐压(BVCEO)

0-1200V

0-2.000MA

传输比(CTR)

0-3000

VCE:0-20V IC:0-2.000A

饱和压降(Vsat)

0-2.000V

IF:0-400MA IC:0-2.00A

输出漏电流(Iceo)0-1mAVCE=20V
输入反向漏电流(IR)0-1mAVR=4V


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